17792574070
检测中心

功率老化-间歇寿命IoL试验

执行标准:GJB128、MIL-STD-750、 ;试验对象:DIODE、BJT、MOSFET、IGBT及SiC器件等分立器件;检测能力:ΔTj≧100℃ 电压 60V,…

相关内容
在线留言
详情内容
content details

执行标准:GJB128、MIL-STD-750、 ;

试验对象:DIODE、BJT、MOSFET、IGBT及SiC器件等分立器件;

检测能力:ΔTj≧100℃ 电压 60V,电流50A。

在线留言

LEAVE A MESSAGE