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环境老化-温度冲击试验

执行标准:GJB548、GJB 150-86、GB 2423、MIL-STD-810H、IEC60068-2-14;试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立…

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执行标准:GJB548、GJB 150-86、GB 2423、MIL-STD-810H、IEC60068-2-14;

试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模块及其他电子产品;

试验能力:温度范围:-70℃~220℃。

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