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环境老化-低温存储LTSL试验

执行标准:GJB548、GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 ;试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGB…

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执行标准:GJB548、GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 ;

试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模块及其他电子产品;

试验能力:温度-70℃。

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