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功率老化-间歇寿命IoL试验

执行标准:GJB128、MIL-STD-750、 ;试验对象:DIODE、BJT、MOSFET、IGBT及SiC器件等分立器件;检测能力:ΔTj≧100℃ 电压 60V,…

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执行标准:GJB128、MIL-STD-750、 ;

试验对象:DIODE、BJT、MOSFET、IGBT及SiC器件等分立器件;

检测能力:ΔTj≧100℃ 电压 60V,电流50A。

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