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功率老化-高温高湿反偏H3TRB试验

执行标准:GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、EIAJ ED-4701100、AEC-Q101;试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等…

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执行标准:GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、

EIAJ ED-4701100、AEC-Q101;

试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模块;

试验能力:温度85℃,湿度范围:25%~95%,电压4500V;

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