17792574070
新闻资讯
当前位置 当前位置:首页 > 新闻资讯 > 公司新闻

半导体器件动态参数测试系统

所属分类:公司新闻    发布时间: 2023-04-08    作者:admin
  分享到:   
二维码分享

系统概述

IGBT 是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件,其开关特性决

定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性,直接影响变换器的性能。因

此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。

半导体器件动态参数测试系统,该系统是针对 IGBT 器件的开关性特性及 IGBT 内部

续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统,适用于电流不超过

1500A 和集电极电压不超过 3500V 的 IGBT 器件开关时间测试以及正向电流不超过 2000A

的二极管反向恢复特性的测试。 基础规格

环境温度:25~35℃

相对湿度:小于 75%

大气压力:86Kpa~ 106Kpa

电网电压:AC220V±10%无严重谐波

电网频率:50Hz±1Hz

参数条件: