高温反偏测试系统可对各种封装形式二极管,三极管,场效应管和可控硅等半导体分立器件。进行高温反偏试验和功率老炼试验,主要用在筛选试验和质量一致性检验。工作时通过温控仪和其他控制系统设定温度和时间,具备自...
半导体静态参数测试系统是针对半导体的各种静态参数而研制的智能测试系统。适合各大研究院所做元器件检验,元件进厂检测筛选以及在线开发器件做生产测试。
浪涌电流测试系统用于检验晶闸管的浪涌电流过载能力,是晶闸管和整流管等半导体器件的生产、应用厂家的**测试设备。浪涌电流是电路异常引起的并使器件结温超过额定结温的不重复大过载电流。
IGBT静态参数测试系统适合工厂、研究所用做IGBT及其模块的筛选、检验、分析以及器件生产厂用做生产测试,是针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统。